是指快速温变试验箱升降温速度是匀速的，每个时间段升降温速度是一样的。如果在某段时间内设置每分钟的升高环境温度，那么它在这整个时间段内的升温都是根据设定的环境温度要求固定不变，降温速率亦都同理，具体就是设备的升降温的速度是受到试验箱仪表的控制固定。

1. 高效快速温变能力：芯片线性快速温变试验箱具有快速的温度变化能力，可以快速升温和降温，大大缩短了温度变化所需的时间。这使得芯片测试过程更加高效，节约了宝贵的时间资源。

2. 精确温度控制：该试验箱能够精确控制温度，确保芯片在特定温度下进行测试。精确的温度控制对于芯片的性能评估和可靠性测试至关重要，使用户能够获得准确的测试结果。

3. 宽温度范围：芯片线性快速温变试验箱适用于广泛的温度范围。无论是低温环境还是高温环境，都可以满足芯片测试的需求。这种灵活性使得该产品适用于各种不同类型的芯片测试场景。

4. 稳定性和可靠性：产品设计和制造过程中注重稳定性和可靠性，确保在长时间使用和频繁温度变化的情况下，试验箱仍能保持高水平的性能和精确度。这为用户提供了可靠的测试环境，确保测试结果的准确性和可重复性。

5. 友好的操作界面：芯片线性快速温变试验箱配备了用户友好的操作界面，使得操作简便易行。用户可以轻松设置温度变化曲线、监控温度变化过程，并实时调整参数。这样的设计使得试验箱的操作更加便捷，提高了工作效率。

6. 多种安全保护功能：为了确保测试过程的安全性，该产品具备多种安全保护功能，例如过温保护、短路保护、电源过载保护等。这些功能可有效防止设备损坏和意外发生，保护用户的安全和设备的可靠性。

7. 节能环保设计：产品采用节能环保设计，具有较低的能耗和更高的能源利用率。通过优化的能源管理系统和高效的制冷技术，能够最大程度地减少能源消耗，降低对环境的影响。

8. 多种尺寸和配置选择：芯片线性快速温变试验箱提供多种尺寸和配置选择，以适应不同规格和数量的芯片测试需求。用户可以根据实际需求选择合适的型号，灵活地满足各种测试场景的需求。无论是小型实验室还是大型生产线，都可以找到适合的试验箱配置。

结构特征：

1.快速温变试验箱主要由箱体、制冷系统、加热系统、空气循环系统以及控制系统组成。

2.箱体的外壳为采用冷轧钢板电喷塑（用户可选优质不锈钢板），内胆采用优质不锈钢板，箱门中间设大面积观察窗，并配有观察灯，使用户可以清晰地看到试样的试验情况。

3.外型整体美观大方。保温层为硬质聚氨脂发泡加上少量的超细玻璃棉，具有强度高，保温性有好等特点。

4.该设备主要温度控制仪采用智能数显温湿度控制仪，人性化设计的操作方法，易学易用，并且不同功能档次的仪表操作相互兼容。

5.输入采用数字校正系统，内置常用热电偶和热电阻非线性校正表格，测量精确稳定。

6.具备位式调节和AI人工智能调节功能，0.2级精度，多种报警模式。升温、降温、加湿、去湿独立，独特的BTHC平衡调温调湿方式。

7.制冷系统采用全封闭进口压缩机组，机械式单级制冷或复迭低温回路系统，全自动控制与安全保护协调系统。加热采用不锈钢翅片加热管。

制冷工作原理：

制冷循环采用逆卡若循环，该循环出两个等温过程和两个绝热过程组成，其过程如下：制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力，消耗了功使排气温度升高，之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换将热量传给四周介质。后制冷剂经截流阀绝热膨胀做功，这是制冷剂温度降低。最后通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温的目的。本试验箱之了、制冷系统采用一套法国产泰康全封闭压缩机所组成的单元氟利昂制冷系统。制冷系统的设计应用能量调节技术，既能保证制冷机组正常运行，又能对制冷系统的能耗及制冷量进行有效调节，使制冷系统保持在最佳状态。采用平衡调温（BTC),既在制冷系统在连续工作的情况下，控制系统根据设定的温度点通过PID自动运算输出的结果去控制加热器的输出量，最终达到一种动态平衡。

试验箱材质：

内箱材质：SUS#304耐热耐寒不锈钢一级镜面光板.

外箱材质：高韧性冷轧不锈钢板并以无溶剂粉体树酯涂装.

保温材质：耐火级高强度PU聚氨酯发泡保温绝缘材料(比一般PU更具断热,耐火功效),保温系数:小于0.0212kcal/mhr.

箱门：全开式箱门1式,单扇开启式.

门气密材料：高张力硅胶密封条,耐温-90~280℃.

观测窗：长方形观测窗，采荧光灯保持箱内明亮，带自动除霜功能，电子加热，任何试验时玻璃表面无霜及凝露现象.

测试孔：外接缆线用测试孔1只 (直径50 mm),附不锈钢孔盖,硅胶塞.

试品架：配备2只可调式不锈钢试品架.

脚轮：附可调式和固定式活动轮各4组,方便设备定位及水平调整.

满足标准：

1. GB/T2424.1-2015环境试验

2. GB/T2424.2-2015电工电子环境试验箱：湿热试验导则。

3. GB/T2424.5-2021环境试验 第3部分

4. GB/T2424.6-2021环境试验 第3部分

5. GB/T2424.7-2006电工电子产品环境试验

6. GB/T2424.27-2013环境试验

7. GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验试验A:低温

8. GB/T2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温

9. GJB150.3-2009 设备环境试验方法 高温试验

10. GJB150.4-2009 设备环境试验方法 低温试验

11. GJB 150.9-2009 设备环境试验方法 湿热试验

12. GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件